基于RFLE設(shè)備在歐洲最大的儲存器生產(chǎn)商（英飛凌，ST，賽風(fēng)，IMEC）的測試上取得的巨大成功，新型高性能的RIFLE-SE系統(tǒng)已經(jīng)被開發(fā)用于單個儲存單元，獨立或者嵌入式先進(jìn)的非易失性儲存（NAND/NOR標(biāo)準(zhǔn)閃存，多級，雙位，PCM）。

RIFLE-SE擁有全新的結(jié)構(gòu)體系，可提供十倍的數(shù)字和模擬性能，并添加了新的重要的功能，擴(kuò)大其應(yīng)用領(lǐng)域，大大減少了測試時間。

RIFLE-SE擁有改進(jìn)過的用戶界面，完全圖形化，只需要點擊鼠標(biāo)即可進(jìn)行復(fù)雜的分析和顯示。

應(yīng)用領(lǐng)域

RIFLE-ES已經(jīng)被開發(fā)了用于深入研究非易失性儲存單元和陣列的行為和可靠性。

它的易用性高和易編程性的界面，和一個專用的高性能測試引擎，使用它能用于在比較廣泛的應(yīng)用當(dāng)中，比如在技術(shù)和產(chǎn)品開發(fā)，以及在內(nèi)存設(shè)備的生命周期中。

技術(shù)和產(chǎn)品開發(fā)

單元可靠性研究：

• 單元測試和表征 (IV, Vt)
• 單個單元循環(huán)
• 算法實驗 (脈沖波形，長度…)

陣列可靠性研究:

• 陣列測試和表征 (分布，映射，子集識別)
• 全部或者部分陣列循環(huán)
• 算法實驗 (編程與擦除，模擬P/E控制器)

產(chǎn)品調(diào)試:

• 功能驗證 (陣列 + 接口)
• 產(chǎn)品表征 (分布，映射，子集識別)
• 使用嵌入式控制器來進(jìn)行全部或者部分陣列循環(huán)

產(chǎn)品質(zhì)檢:

• 錯誤分析
• 互動檢測

制造和產(chǎn)品生命周期

過程控制：

• 測試結(jié)構(gòu)的功能性和可靠性分析
• 陣列測試和表征 (分布，映射，子集識別)
• 全部或者部分陣列循環(huán)

產(chǎn)品質(zhì)量控制：

• 產(chǎn)品的功能性和可靠性分析
• 產(chǎn)品表征 (分布圖，映射，子集識別)
• 使用嵌入式控制器進(jìn)行全部或者部分陣列循環(huán)

錯誤分析：

• 得知錯誤是來自于測試過程還是質(zhì)量控制過程
• 互動檢測

現(xiàn)場回報分析：

• 了解現(xiàn)場應(yīng)用的故障
• 互動檢測